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納米粒度儀及Zeta電位儀國產廠家

簡要描述:BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀是丹東百特儀器有限公司2024年新推出的表征納米體系特性的光學檢測系統。

  • 產品型號:BeNano 180 Zeta Max
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2025-12-26
  • 訪  問  量: 6496

詳細介紹

產品介紹


BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀是丹東百特儀器有限公司2024年新推出的表征納米體系特性的光學檢測系統。該系統中集成了動態光散射DLS、電泳光散射ELS、靜態光散射SLS以及透射光檢測技術,可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta電位,高分子和蛋白體系的分子量、液體的折射率、以及顆粒物濃度信息等等參數,可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等等領域的基礎研究和質量分析質量控制用途。


納米粒度儀及Zeta電位儀國產廠家


基本性能指標


1、粒徑檢測(動態光散射法)

 粒徑范圍  0.3 nm - 15 μm*
 樣品量 最小3μL,常規1ml(可訂制其它容量)*
 檢測角度  173°+90°+11.2°(可對應高濃度粒度和低濃度粒度)
 樣品濃度 ≤40%(W/V)*
粒徑算法 Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

2、Zate電位測試

 Zeta范圍  無實際限制
 原理 相位分析光散射PALS
 電泳遷移率范圍 > ±20 μ.cm/V.s
 電導率范圍  0 - ≥270 mS/cm *
Zeta測試粒徑范圍  1 nm – >120 μm *

3、沉降法粒度測試

 粒徑范圍  1 μm - 50 μm *
 檢測角度  0°(PD檢測器)
 樣品量  1 – 3 ml

4、分子量測試

 分子量范圍  342 Da – 2 x 107 Da *

5、微流變測試

 測試能力  均方位移、復數模量、彈性模量、粘性模量、蠕變柔量、復數粘度

6、趨勢測試

 溫度趨勢  粒度與Zeta電位隨溫度變化趨勢,自動檢測溫度轉變點Tm
時間趨勢粒度與Zeta電位隨時間的變化趨勢
pH值趨勢 粒度與Zeta電位隨pH值的變化趨勢 *

7、濃度檢測

 檢測方法  LEDLS
測試能力  體積分數和數量濃度

8、折射率測試

 折射率范圍與精度  1.2 - 1.6,液體,精度優于0.1%
 檢測方法  楔形池樣品折射法(無需示蹤粒子)
 檢測角度  0°(CMOS檢測器)
 樣品量  380 μL – 1 ml

9、系統參數

 溫控范圍  -15°C - 120°C
 冷凝控制  干燥空氣或者氮氣
 激光器  高性能固體激光器,波長671nm(不同波長激光器可選)
 相關器  快、中、慢多模式,最快25 ns采樣,最多 4000通道,1011動態線性范圍
檢測器  APD+PD+CMOS
 光強控制  0.0001% -100%,自動或手動控制
* 依賴于樣品和選件



檢測參數


動態光散射

●流體力學尺寸 Dh

●分布系數 PD.I

●擴散系數 D

●顆粒間相互作用力因子 kd

●顆粒體系的光強、體積、面積和數量分布

●計算分子量

●溶液粘度和折射率

●流變學信息G*,G‘,G“,η*,J


電泳光散射

●Zeta電位及其分布

●帶電顆粒的電泳遷移率


透射

●透射濁度

● 顆粒物濃度

●液體折射率

●沉降法粒度和粒度分布測試


趨勢測試

● Zeta電位和粒徑的pH滴定

● 粒徑和Zeta電位的溫度趨勢測試


靜態光散射

● 絕對分子量Mn、Mw、Mz

● 分子量分布

● 第二維利系數A2



選配件


動靜態流動模式

BeNano動靜態流動模式(Flow Mode)是將納米粒度及Zeta電位儀同一個分離前端(FFF、GPC/SEC)相連接。分離前端可以根據尺寸將樣品進行分離,依次流出。通過檢測每個流出組分的動態光散射信號和靜態光散射號,并結合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號,得到高分辨率且不依賴于計算模型的粒徑分布、分子量分布信息。

納米粒度儀及Zeta電位儀國產廠家


BAT-1自動滴定儀

樣品的Zeta電位和粒徑對于分散液介質環境具有強烈的依賴性,尤其是環境pH,不但影響Zeta電位的大小,而且會影響顆粒體系的帶電符號。BAT-1自動滴定儀與BeNano系列連用,內置三個高精度滴定泵和一個樣品輸送泵,具有樣品攪拌能力,可以對于樣品的粒徑和Zeta電位進行自動化的酸堿滴定測試,具有測試效率高、精確定量、重復性好、結果不依賴于操作者等特點。由于盛放樣品的樣品管可拋棄,避免了交叉污染的風險。

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BeScan穩定性分析儀

BeScan穩定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩定性分析設備,通過檢測得到樣品隨空間分布、時間、溫度的不穩定性變化,并給出不穩定性指數IUS,粒子遷移速度及樣品粒徑隨時間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學系統可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度,能更好的洞悉樣品的微觀結構變化,從而極大的節約檢測時間,縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯合使用,通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。

納米粒度儀及Zeta電位儀國產廠家


丹東百特是專業的國產納米粒度儀/Zeta電位儀廠家




 

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